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Durante las últimas tres décadas, IXRF ha estado diseñando y fabricando sistemas de microanálisis de rayos X de gama alta que se ajustan a microscopios electrónicos de barrido (SEM). Hace casi 10 años, IXRF desarrolló SEM-XRF accesorios de microscopio que permiten una cobertura de análisis elemental más amplia. En 2014, IXRF lanzó nuestra ATLAS Serie de espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía de micropuntos (microEDXRF) de uso general para la medición y el mapeo de elementos desde el sodio (Na) hasta el uranio (U).