Para nuestro SEM-EDS, SEM-XRF y productos microEDXRF, IXRF ofrece Iridium Ultra: un conjunto de software de última generación con todo incluido que presenta una gran variedad de capacidades cualitativas y cuantitativas integrales que admiten la excitación de haz de electrones y rayos X. Se incluyen el control y la automatización del escenario, la adquisición de datos, la manipulación espectral (incluida la deconvolución y la eliminación de artefactos), el mapeo, las imágenes y las herramientas de análisis estadístico. La plataforma es insuperable en su capacidad para proporcionar mapeo elemental y de fase, escaneos de línea, dimensiones críticas (CD), así como análisis elementales cualitativos y cuantitativos. Para el ATLAS Línea microXRF, esto incluye análisis de sólidos, líquidos, partículas, polvos y películas delgadas.
Software avanzado de imágenes y análisis elemental EDS/XRF
IRIDIUM ULTRA
Resumen de espectros
- Elementos identificativos
- Procesamiento de espectro
- Anotaciones
- Superposición de espectro
- Informes de espectro
identificar elementos
Los marcadores de energía Kα ayudan a identificar fácilmente los picos elementales
Identifique elementos a través de la identificación del cursor seleccionando canales de energía individuales.
Procesamiento de espectro
• Separación de picos mediante deconvolución gaussiana
• Corrección automática de superposición de picos
• Eliminación automática de picos de escape y suma
• Cuantificación automática sin estándares usando ZAF
Anotación
Al seleccionar Anotaciones en la barra de herramientas de Spectrum, se abre una nueva ventana que permite al usuario medir, etiquetar, agregar texto, etc. en el espectro. Estas anotaciones son totalmente personalizables y se pueden exportar con el espectro.
Superposición de espectro
Los espectros se pueden superponer para comparar fácilmente las composiciones relativas en las muestras
Informes de espectro
Cree un informe de hoja de cálculo simple del análisis cuantitativo de múltiples espectros.
DESCRIPCIÓN GENERAL DE IMÁGENES
- Adquisición de imágen
- Paquete de análisis (barra de herramientas)
- Morfología
- Segmentación
- Costura/Montaje
- Análisis automatizado de partículas y multipunto
ADQUISICIÓN DIRECTA DE IMAGEN
Las herramientas de adquisición directa permiten recopilar datos EDS seleccionando la región de interés de la imagen SEM. Esto incluye espectros de puntos/rectángulos/manos libres, así como mapas y escaneos lineales en la imagen.
ADQUISICIÓN MULTIPARTE
Multipart Acquire permite un análisis de espectro totalmente automatizado con configuraciones EDS personalizadas e informes de análisis de espectro generados automáticamente. Esto incluye adquisición de espectro de línea a mano alzada, área de trama y punto único.
SEGMENTACIÓN
La segmentación de imágenes proporciona una representación visual de las diferentes fases de una imagen. Según el análisis del histograma, puede ver el porcentaje de área que ocupa cada fase.
MORFOLOGÍA
Image Morphology proporciona información de partículas a través de la binarización de imágenes. La binarización de imágenes transforma la imagen en escala de grises según los datos del histograma.
Esto le permite etiquetar y medir píxeles para proporcionar una gran cantidad de datos morfológicos.
DESCRIPCIÓN GENERAL DE LOS ESCÁNER DE LÍNEAS
- Adquisición de escaneo lineal multielemento
- Superposición de exploración lineal
- DataView (Intensidad/Concentración)
- Escaneo múltiple
DESCRIPCIÓN GENERAL DEL MAPEO
- Mapeo Cuantitativo de Mutielementos
- Mapas superpuestos
- Paquete de análisis de mapas (barra de herramientas)
- Extraer espectros (a mano alzada, punto, área)
- Extraer escaneo lineal
- DataView (Intensidad/Concentración)
- Corrección de la deriva del haz
- Espectro máximo de píxeles
- Puntada de mapa y montaje
- Automatice la automatización de escenarios y vigas
- Mapeo de composición
- Análisis de fase
ANOTACIONES DE MAPEO
Al seleccionar Anotaciones en la barra de herramientas del mapa, se abre una nueva ventana que permite al usuario medir, etiquetar, agregar texto, etc. en el mapa.
ESPECTROS DEL MAPA
Combine los píxeles del mapa de rayos X para extraer espectros de una región de interés
INTENSIDADES ELEMENTALES
Al seleccionar Intensidades de elementos en la pestaña Mapa, se abrirá una nueva ventana. Se puede colocar un punto/rectángulo/mano alzada en la imagen para comparar la intensidad/concentración.
MAPAS DE FASE
Al seleccionar Mapas de fase en la pestaña Mapa, se identificarán diferentes fases dentro de una muestra y se analizarán cuantitativamente los elementos dentro de cada fase.
Las diferentes fases se mostrarán gráficamente en un mapa junto con espectros superpuestos específicos de fase para proporcionar una comparación cualitativa.
MAPAS DE RELACIÓN
Analice las proporciones de los elementos en una región de interés y muestre una comparación de las proporciones porcentuales en peso de los elementos.
MAPEO DE COMPOSICIÓN
Al seleccionar Mapeo de composición en la pestaña Mapa, se identificarán las ubicaciones del mapa que contienen concentraciones de elementos específicos de acuerdo con los parámetros especificados.
El análisis cuantitativo se realiza en cada píxel donde una concentración calculada se compara con una concentración específica. A continuación, los píxeles coincidentes se muestran en el mapa de composición.
MAPAS DE ELEMENTOS/COMPONENTES CUANTITATIVOS
Los mapas cuantitativos convierten los datos de píxeles mostrados en Concentración (% en peso) a partir de Intensidad (cps).
Esta función puede mostrar los mapas cuantitativos como mapas elementales o mapas de componentes (es decir, óxidos).
Mapas Térmicos / de Calor
Análisis de imagen
Ajuste de picos y deconvolución
Escaneo de línea desde un mapa
Morfología a partir de un mapa
Superposiciones de mapas elementales
Morfología
Calibración de mínimos cuadrados
Identificación de fase automática en mapas
