Detectores de deriva de silicio para SEM
La gama de IXRF de refrigeración electrónica (LN2 gratis) Los detectores de deriva de silicio (SDD) se optimizan cuando se combinan con nuestro innovador procesador de pulso digital 550i basado en Ethernet. Configurados específicamente para el microscopio electrónico de barrido (SEM) de cada cliente, los detectores SDD de IXRF brindan un rendimiento excepcional y estable en una amplia gama de tasas de conteo de entrada para producir mapas elementales de fluorescencia de rayos X rápidos.
El detector SDD está disponible en formatos EDS (SEM montado con ensamblaje deslizante) y XRF (varios diseños, sin deslizamiento). Hay opciones de materiales de ventana disponibles, desde berilio (8 µm) hasta polímero delgado (para transmisión de rayos X de elementos ligeros) y se ofrecen áreas activas de sensor de 10 mm² a 100 mm². Además, todas nuestras versiones SEM SDD están libres de vibraciones.
DESCARGAR FOLLETO DETECTORESCaracteristicas
IXRF puede actualizar su SEM/EDS software y computadora para la seguridad y protección del Windows 10 entorno de sistema operativo. La interoperabilidad con Microsoft Office significa que la generación de informes es simple e intuitiva. Y su SEM cumplirá con los últimos protocolos de seguridad corporativos/institucionales.
Fuentes de rayos X microXRF para microscopios electrónicos de barrido (SEM): adición de un tubo de rayos X policapilar y Iridium Ultra El software transformará las capacidades analíticas cuantitativas de su SEM. Las proporciones de pico a fondo más altas permiten una mayor sensibilidad elemental para elementos Z más altos: sensibilidad superior a e–-excitación del haz por un factor de 10-1000X.
RESUMEN
En los 50 años transcurridos desde la primera combinación de la espectrometría de rayos X de dispersión de energía (EDS) basada en semiconductores con el microscopio electrónico de barrido (SEM), este instrumento híbrido se ha convertido en una herramienta microanalítica indispensable. En las últimas dos décadas, un nuevo detector, el detector de deriva de silicio (SDD), ha superado la tecnología anterior de Si (Li) y ha hecho que EDS en SEM y TEM sea más rápido y mejor. Este artículo cuenta la historia del desarrollo de SDD y describe las mejoras en la capacidad de tasa de conteo, la resolución de energía y la geometría del detector que brindan al microanálisis SEM una precisión y estabilidad excepcionales. Los mapas de calidad de las distribuciones de elementos ahora se pueden obtener en minutos en lugar de horas.
Ejemplos de Aplicaciones
Arqueología/Museos
Artefactos y moneda del museo
Metales y aleaciones
inclusiones de piedras preciosas
Pintura autenticidad/fecha
Pinturas, tintas, pigmentos
productos de corrosión
Dispositivos/implantes biomédicos
Células solares
Filtros ópticos
Fabricación
Patología
Farmacéuticos
Semiconductores
Conformidad con RoHS, WEEE y ELV
Geológico
Meteoritos
Límites de fase
Identificación de minerales
Núcleos de prueba de minería
Electrónicos
Gafas
Materiales de construcción (hormigón, cemento)
Embalaje
Medicina/Biología
Huesos/tejido
hojas/plantas
implante
Análisis de partículas
Análisis ambiental
Contaminación por plomo en bienes de consumo
Contaminacion de suelo
Caracterización de materiales para reciclaje
Sedimentos marinos/oceánicos
Partículas en el aire/filtros de aire
lechada
Ciencias Forenses
Chips de vidrio
Pintar secciones transversales
Tintas/pigmentos
Tierras/piedras
Residuos de disparos de armas
Identificación de material
