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Nas últimas três décadas, a IXRF vem projetando e fabricando sistemas de microanálise de raios X de ponta que são instalados em microscópios eletrônicos de varredura (SEM). Há quase 10 anos, o IXRF desenvolveu SEM-XRF anexos de microscópio permitindo uma cobertura de análise elementar mais ampla. Em 2014, a IXRF lançou nosso ATLAS série de espectrômetros de fluorescência de raios X dispersivos de energia micro spot (microEDXRF) de uso geral para a medição e mapeamento de elementos de sódio (Na) a urânio (U).