Para o nosso SEM-EDS, SEM-XRF e produtos microEDXRF, a IXRF oferece Iridium Ultra: um conjunto de software de última geração com tudo incluído, apresentando uma infinidade de recursos qualitativos e quantitativos abrangentes que suportam excitação de feixe eletrônico e raio-X. Estão incluídos controle e automação de palco, aquisição de dados, manipulação espectral (incluindo deconvolução e remoção de artefatos), mapeamento, imagens e ferramentas de análise estatística. A plataforma é insuperável em sua capacidade de fornecer mapeamento elementar e de fase, varreduras de linha, dimensões críticas (CD), bem como análises elementares qualitativas e quantitativas. Para o ATLAS linha microXRF, inclui análise de sólidos, líquidos, partículas, pós e filmes finos.
Software avançado de análise elementar e imagem EDS/XRF
IRIDIUM ULTRA
Visão geral dos espectros
- Identificando Elementos
- Processamento de espectro
- Anotações
- Sobreposição de espectro
- Relatório de espectro
Identificar Elementos
Os marcadores de energia Kα ajudam a identificar facilmente os picos elementares
Identifique elementos através do ID do cursor selecionando canais de energia individuais.
Processamento de espectro
• Separação de pico usando deconvolução gaussiana
• Correção automática de sobreposição de pico
• Escape automático e remoção de pico de soma
• Quantificação Automática Sem Padrões usando ZAF
Anotação
A seleção de Anotações na barra de ferramentas do Espectro abre uma nova janela que permite ao usuário medir, rotular, adicionar texto, etc. no espectro. Essas anotações são totalmente personalizáveis e podem ser exportadas com o espectro.
Sobreposição de espectro
Os espectros podem ser sobrepostos para comparar facilmente as composições relativas nas amostras
Relatório de espectro
Crie um relatório de planilha simples da análise quantitativa de vários espectros.
VISÃO GERAL DE IMAGEM
- Aquisição de imagem
- Conjunto de análise (barra de ferramentas)
- Morfologia
- Segmentação
- Costura/Montagem
- Análise Automatizada de Partículas e Multiponto
ADQUIRIR DIRETO DE IMAGEM
As ferramentas Direct Acquire permitem que os dados EDS sejam coletados selecionando a região de interesse da imagem SEM. Isso inclui espectros de ponto/retângulo/mão livre, bem como mapas e varreduras de linhas na imagem.
AQUISIÇÃO DE MÚLTIPLAS PARTES
O Multipart Acquire permite a análise de espectro totalmente automatizada com configurações EDS personalizadas e relatórios de análise de espectro gerados automaticamente. Isso inclui aquisição de espectro de ponto único, área raster e linha à mão livre.
SEGMENTAÇÃO
A segmentação de imagem fornece uma representação visual de diferentes fases em uma imagem. Com base na análise do histograma, você pode ver a porcentagem de área que cada fase ocupa.
MORFOLOGIA
A Morfologia da Imagem fornece informações sobre as partículas por meio da binarização da imagem. A binarização da imagem transforma a imagem em escala de cinza com base nos dados do histograma.
Isso permite rotular e medir pixels para fornecer uma abundância de dados morfológicos.
VISÃO GERAL DE LINESCANS
- Aquisição Multielement Linescan
- Sobreposição de varredura de linha
- DataView (Intensidade/Concentração)
- MultiScan
VISÃO GERAL DO MAPEAMENTO
- Mapeamento Quantitativo de Mutielement
- Mapas de sobreposição
- Suite de análise de mapas (barra de ferramentas)
- Extrair espectros (à mão livre, local, área)
- Extrair varredura de linhas
- DataView (Intensidade/Concentração)
- Correção de desvio do feixe
- Espectro Máximo de Pixel
- Ponto e montagem do mapa
- Automatize a automação de palco e feixe
- Mapeamento de composição
- Análise de Fase
ANOTAÇÕES DE MAPEAMENTO
A seleção de Anotações na barra de ferramentas do Mapa abre uma nova janela que permite ao usuário medir, rotular, adicionar texto, etc. no mapa.
ESPECTRO DO MAPA
Combine pixels do X-Ray Map para extrair espectros de uma região de interesse
INTENSIDADES ELEMENTARES
A seleção de Intensidades do Elemento na guia Mapa abrirá uma nova janela. Um ponto/retângulo/à mão livre pode ser colocado na imagem para comparar a intensidade/concentração.
MAPAS DE FASE
A seleção de Mapas de Fase na guia Mapa identificará diferentes fases em uma amostra e analisará quantitativamente os elementos em cada fase.
As diferentes fases serão exibidas graficamente em um mapa ao lado de espectros sobrepostos específicos de fase para fornecer uma comparação qualitativa.
MAPAS DE RELAÇÃO
Analise as proporções dos elementos em uma região de interesse e exiba uma comparação das proporções percentuais do peso do elemento.
MAPEAMENTO DE COMPOSIÇÃO
A seleção de Mapeamento de composição na guia Mapa identificará as localizações do mapa contendo concentrações de elementos específicos de acordo com os parâmetros especificados.
A análise quantitativa é realizada em cada pixel onde uma concentração calculada é comparada a uma concentração especificada. Os pixels correspondentes são exibidos no mapa de composição.
ELEMENTOS QUANTITATIVOS / MAPAS DE COMPONENTES
Os mapas quantitativos convertem os dados de pixel exibidos em Concentração (% em peso) de Intensidade (cps).
Este recurso pode exibir os mapas quantitativos como mapas elementares ou mapas de componentes (ou seja, óxidos).
Mapas térmicos / de calor
Análise de imagem
Ajuste de pico e deconvolução
Varredura de linha de um mapa
Morfologia de um mapa
Sobreposições de mapas elementares
Morfologia
Calibração de mínimos quadrados
ID de fase automática no Maps
