Detectores de Deriva de Silício para SEM

A linha IXRF de refrigerados eletronicamente (LN2 free) Os Detectores de Desvio de Silício (SDD) são otimizados quando acoplados ao nosso inovador processador de pulso digital 550i baseado em Ethernet. Especificamente configurados para o microscópio eletrônico de varredura (SEM) de cada cliente, os detectores SDD da IXRF oferecem desempenho excepcional e estável em uma ampla faixa de taxas de contagem de entrada para produzir mapas elementares de fluorescência de raios-X rápidos.

O detector SDD está disponível nos formatos EDS (SEM montado com montagem de slide) e XRF (vários designs, sem slide). Estão disponíveis opções de materiais de janela, de Berílio (8µm) a Thin Polymer (para transmissão de raios X de elemento leve) e áreas ativas do sensor de 10mm² a 100mm² são oferecidas. Além disso, todas ou nossas versões SEM SDD são livres de vibração.

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Recursos

IXRF pode atualizar seu SEM/EDS software e computador para a segurança e proteção do Windows 10 ambiente do sistema operacional. A interoperabilidade com o Microsoft Office significa que a geração de relatórios é simples e intuitiva. E seu SEM estará em conformidade com os mais recentes protocolos de segurança corporativa/institucional.

Fontes de raios X microXRF para Microscópios Eletrônicos de Varredura (SEM): adição de um tubo de raios X policapilar e Iridium Ultra software irá transformar as capacidades analíticas quantitativas do seu SEM. Razões de pico para fundo mais altas permitem maior sensibilidade elementar para elementos Z mais altos: sensibilidade superior a e--excitação do feixe por um fator de 10-1000X.

Desenvolvimento do Detector de Deriva de Silício para Aplicações de Microscopia Eletrônica. Lothar Strüder, Adrian Niculae, Peter Holl e Heike Soltau. Microscopia hoje, Volume 28, Edição 5: setembro de 2020 , pp. 46-53. DOI: https://doi.org/10.1017/S1551929520001327

RESUMO

Nos 50 anos desde o primeiro acoplamento da espectrometria de raios X com dispersão de energia (EDS) baseada em semicondutores com o microscópio eletrônico de varredura (SEM), este instrumento híbrido tornou-se uma ferramenta microanalítica indispensável. Nas últimas duas décadas, um novo detector, o detector de desvio de silício (SDD), ultrapassou a tecnologia anterior de Si(Li) e tornou o EDS no SEM e no TEM mais rápido e melhor. Este artigo conta a história do desenvolvimento do SDD e descreve melhorias na capacidade de taxa de contagem, resolução de energia e geometria do detector que trazem à microanálise de SEM precisão e estabilidade excepcionais. Mapas de qualidade de distribuições de elementos agora podem ser obtidos em minutos em vez de horas.

Aplicativos de exemplo

Arqueologia/Museus
Artefatos e moeda do museu
Metais e ligas
Inclusões de pedras preciosas
Autenticidade/namoro da pintura
Tintas, tintas, pigmentos
Produtos de corrosão
Dispositivos/implantes biomédicos
Células solares
Filtros ópticos
Fabricação
Patologia
Farmacêutico
Semicondutores
Conformidade com RoHS, WEEE e ELV

Geológico
Meteoritos
Limites de fase
Identificação mineral
Núcleos de teste de mineração
Eletrônicos
Óculos
Materiais de construção (concreto, cimento)
Embalamento
Medicina/Biologia
Ossos/tecidos
Folhas/plantas
Implantes
Análise de partículas

Análise ambiental
Contaminação por chumbo em bens de consumo
Contaminação do solo
Caracterização de materiais para reciclagem
Sedimentos marinhos/oceânicos
Partículas transportadas pelo ar/filtros de ar
Pasta
Ciência Forense
Chips de vidro
Pintar seções transversais
Tintas/pigmentos
Solos/pedras
Resíduo de tiro
Identificação de material

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